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Nanoscope IIIa型扫描探针显微镜(STM,AFM、MFM和LFM)
仪器设备指标
厂家
美国Digital Instrument公司
型号
Nanoscope IIIa
用途
表面形貌分析
表面侧向力分析
表面磁力分析
联系途径
实验室
化学楼北楼230室
电话
2181906
E-mail:
bwmao@xmu.edu.cn
E-mail:
zxxie@xmu.edu.cn
仪器管理组
毛秉伟
谢兆雄