Nanoscope IIIa型扫描探针显微镜(STM,AFM、MFM和LFM)

仪器设备指标
厂家 美国Digital Instrument公司
型号 Nanoscope IIIa
用途 表面形貌分析
表面侧向力分析
表面磁力分析
联系途径
实验室 化学楼北楼230室
电话 2181906
E-mail: bwmao@xmu.edu.cn
E-mail: zxxie@xmu.edu.cn
仪器管理组
毛秉伟
谢兆雄